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產品簡介
雙電測四探針測試儀是個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序。測試程序在計算機與RTS-9型四探針測試儀連接的狀態下，通過計算機的并口實現通訊。    測試程序控制四探針測試儀行測量并實時采集兩次組合模式下的測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在
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| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
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雙電測四探針測試儀/四探針測試儀/四探針檢測儀/雙電測四探針測定儀/雙電測四探針電阻率測試儀 型號：GSZ-RTS-9
雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新,將范德堡測量方法推廣應用到直線四探針上,利用電探針、電壓探針的變換，在計算機控制下行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響。因而每次測量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測量都是對幾何因素的影響行動態的自動修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提了測量結果的準確度。所有這些，用目前大量使用的常規四探針測量方法所的儀器是無法實現的。
是個運行在計算機上擁有友好測試界面的用戶程序。測試程序在計算機與RTS-9型四探針測試儀連接的狀態下，通過計算機的并口實現通訊。
測試程序控制四探針測試儀行測量并實時采集兩次組合模式下的測試數據，把采集到的數據在計算機中加以分析，然后把測試數據以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數據在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數據輸出到Excel中，讓用戶對數據行各種數據分析
測量范圍 | 電阻率：10-5～105 Ω.cm(可擴展)； |
可測晶片厚度 | ≤3mm |
可測晶片直徑 | 140mmX150mm(配S-2A型測試臺)； |
恒源 | 電量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電連續可調 |
數字電壓表 | 量程及表示形式：000.00～199.99mV； |
四探針探頭基本標 | 間距：1±0.01mm； |
四探針探頭應用參數 | (見探頭附帶的合格證) |
模擬電阻測量相對誤差 | 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字 |
整機測量zui大相對誤差 | (用硅標樣片：0.01-180Ω.cm測試)≤±4% |
整機測量標準不確定度 | ≤4% |
計算機通訊接口 | 并口 |
標準使用環境 | 溫度：23±2℃； |
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